由于X射線熒光光譜儀可以輕松檢測金屬元素，因此常用于檢測產(chǎn)品中的異物以及確定重金屬造成的環(huán)境污染。此外，由于可以一次分析所有可測量的元素，因此非常適合分析成分未知的物質(zhì)的組成，并廣泛應(yīng)用于各種研究和調(diào)查。

非熟練技術(shù)人員也可以使用，并且分析樣品的制備很容易或不需要。 X 射線熒光分析具有許多應(yīng)用，因為它可以非破壞性、快速且輕松地進(jìn)行化學(xué)分析。

關(guān)注速度的分析示例如下。

土壤、工業(yè)廢棄物、回收產(chǎn)品等中含有的有害元素檢測

電子材料及元件中的雜質(zhì)分析

金屬材料、巖石、礦石、水泥、玻璃等成分分析

植物中金屬、磷、硫等分析

食品和食品容器中的異物或殘留添加劑分析

利用無損分析優(yōu)勢的應(yīng)用如下。

珠寶、藝術(shù)品、文化財產(chǎn)、考古發(fā)掘、證據(jù)等鑒定

機(jī)場和海關(guān)的行李檢查